ZYGO新型Verifire HDX干涉儀

• 更新時(shí)間：2020-08-20
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ZYGO新型Verifire HDX干涉儀
ZYGO新型Verifire HDX干涉儀是為高精度的光學(xué)元件和系統(tǒng)設(shè)計(jì)和制造的，可以獲得元件表面的中頻特征信息。 Verifire HDX系統(tǒng)具有全新的光學(xué)設(shè)計(jì)，經(jīng)過(guò)嚴(yán)格設(shè)計(jì)，可為其所配的3.4kx 3.4k（1160萬(wàn)像素）傳感器提供突破像素限制的性能，呈現(xiàn)增強(qiáng)的圖像，

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ZYGO新型Verifire HDX干涉儀

ZYGO新型Verifire HDX干涉儀是為高精度的光學(xué)元件和系統(tǒng)設(shè)計(jì)和制造的，可以獲得元件表面的中頻特征信息。系統(tǒng)包含現(xiàn)有Verifire HD的所有功能-比如QPSI和長(zhǎng)壽命穩(wěn)頻的激光器，并增加了重要的增強(qiáng)功能，如刷新行業(yè)水平的分辨率和成像能力，儀器傳遞函數(shù)（ITF）、出眾的中頻特征分析和大坡度表面測(cè)試，同時(shí)也兼具了ZYGO DynaPhase®系列動(dòng)態(tài)采集技術(shù)，可以消除震動(dòng)引起的問(wèn)題并且能夠在近乎任何環(huán)境中準(zhǔn)確計(jì)量。

光學(xué)表面測(cè)量中的中頻特征分析

UltraFlat和UltraSphereλ/ 40傳輸元件

篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國(guó)、英國(guó)、德國(guó)等多地區(qū)的合作伙伴，憑借種類(lèi)齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù)，涵蓋光學(xué)儀器、測(cè)量?jī)x器、無(wú)損檢測(cè)、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、量具量?jī)x等各類(lèi)檢測(cè)設(shè)備，努力為客戶解決日新月異的測(cè)量分析技術(shù)挑戰(zhàn)，共同提供定制化精密測(cè)量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。測(cè)量?jī)x器 電子元器件 電工儀器儀表 衡器 儀器儀表 光學(xué)儀器 測(cè)量?jī)x表 分析儀器 測(cè)試儀器 實(shí)驗(yàn)儀器裝置 流量?jī)x表 工業(yè)自動(dòng)化儀表 溫度儀表 實(shí)驗(yàn)室儀器 試驗(yàn)機(jī) 電子測(cè)量?jī)x表 氣體檢測(cè)分析儀 自動(dòng)化儀表及系統(tǒng) 電工儀器 監(jiān)測(cè)儀器 物位儀表 電子測(cè)量?jī)x器 壓力儀表 試驗(yàn)機(jī)設(shè)備 變送器 試驗(yàn)箱 環(huán)保檢測(cè)儀器 無(wú)損檢測(cè)儀器 儀器儀表配件生物儀器 室內(nèi)環(huán)保檢測(cè)儀器 電能儀表 感應(yīng)器 氣象儀器 儀器儀表元器件及器材 量具/量?jī)x 量具 色譜儀 計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器具 校驗(yàn)儀器 量?jī)x 量器量具 集成電路 儀器儀表用功能材料 紡織用儀器 機(jī)械量測(cè)量?jī)x表 電能表 驅(qū)動(dòng)裝置 車(chē)用儀表 計(jì)時(shí)器 儀用電源 儀器儀表用結(jié)構(gòu)裝置 氣動(dòng)單元組合儀表 紫外線分析儀器 橡塑儀器儀表 微波儀器 包裝測(cè)試設(shè)備 強(qiáng)電/弱電用接點(diǎn)材料.

篤摯憑借積累了十幾年的專業(yè)經(jīng)驗(yàn)，在檢測(cè)和儀器儀表領(lǐng)域都對(duì)行業(yè)和產(chǎn)品擁有著深刻的認(rèn)識(shí)，*的專業(yè)知識(shí)和對(duì)客戶需求的深層理解。從為客戶推薦型號(hào)，到報(bào)價(jià)，成單，訂單跟蹤，質(zhì)檢，包裝出運(yùn)，售后服務(wù)等一系列流程，都有專門(mén)的人員負(fù)責(zé)。不管是將國(guó)內(nèi)配件銷(xiāo)售給海外客戶，還是將進(jìn)口儀器提供給國(guó)內(nèi)客戶，篤摯一直都堅(jiān)守這兩個(gè)領(lǐng)域，致力于提供合適的產(chǎn)品和專業(yè)放心的服務(wù)給客戶。

特殊設(shè)計(jì)優(yōu)化的分辨率和性能：

        Verifire HDX系統(tǒng)具有全新的光學(xué)設(shè)計(jì)，經(jīng)過(guò)嚴(yán)格設(shè)計(jì)，可為其所配的3.4kx 3.4k（1160萬(wàn)像素）傳感器提供突破像素限制的性能，呈現(xiàn)增強(qiáng)的圖像，可以顯示出較低分辨率干涉儀難以辨識(shí)的表面特征。這種很高的空間分辨率不會(huì)以犧牲速度為代價(jià)，該系統(tǒng)在全分辨率下以幀率96 Hz運(yùn)行，比其它高分辨率干涉儀速度快10倍，那些由于采樣速度較慢在采樣的時(shí)候會(huì)引入震動(dòng)誤差從而測(cè)試能力受限。功率譜密度（PSD）和衍射分析工具完善了Verifire HDX系統(tǒng)的中頻特征分析能力，并通過(guò)簡(jiǎn)單直觀的用戶界面來(lái)分析和報(bào)告綜合表面特性。

高質(zhì)量的參考光學(xué)元件和配件：

         UltraFlat™和UltraSphere™很高精度透射平面和球面，面形可以達(dá)到λ/40 PVr或更高，并且嚴(yán)格控制PSD特征進(jìn)行制造，以優(yōu)化中頻特征。推薦將這些高精度參考光學(xué)元件與Verifire HDX干涉儀一起配合使用，以全面實(shí)現(xiàn)和提升系統(tǒng)的性能。無(wú)論它們是被用于垂直構(gòu)型還是水平構(gòu)型，UltraFlat透射平板面形精度不變，從而在測(cè)試設(shè)置中提供更大的靈活性。

Mx Software, Zernike Analysis Results